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技術(shù)資料

TECHNICAL INFORMATION

超聲波探傷儀探傷常見的疑難問(wèn)題解答

2012年08月12日

超聲波探傷儀
  
  一、超聲波探傷儀探傷中,超生波在介質(zhì)中傳播時(shí)引起衰減的原因是什么?
  
  (1)超聲波的擴(kuò)散傳播距離增加,波束截面愈來(lái)愈大,單位面積上的能量減少。
  
  (2)材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收;二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。
  
  二、CSK-ⅡA試塊的主要作用是什么?
  
  (1)校驗(yàn)靈敏度;
  
  (2)校準(zhǔn)掃描線性。
  
  三、用超聲波對(duì)餅形大鍛件探傷,如果用底波調(diào)節(jié)超聲波探傷儀起始靈敏度對(duì)工作底面有何要求?
  
  (1)底面必須平行于探傷面;
  
  (2)底面必須平整并且有一定的光潔度。
  
  四、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成?
  
  主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。
  
  五、超聲波探傷發(fā)射電路的主要作用是什么?
  
  由同步電路輸入的同步脈沖信號(hào),觸發(fā)發(fā)射電路工作,產(chǎn)生高頻電脈沖信號(hào)激勵(lì)晶片,產(chǎn)生高頻振動(dòng),并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。
  
  六、超聲波探傷儀探傷中,晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么?
  
  晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙,會(huì)使超聲波完全反射,造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無(wú)法探傷。
  
  七、JB1150-73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的超聲波探傷儀探傷判別缺陷的三種情況是什么?
  
  (1)無(wú)底波只有缺陷的多次反射波。
  
  (2)無(wú)底波只有多個(gè)紊亂的缺陷波。
  
  (3)缺陷波和底波同時(shí)存在。
  
  八、JB1150-73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途是什么?
  
  距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小,給驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線、定量線、測(cè)長(zhǎng)線三條曲線組成;
  
  判廢線――判定缺陷的最大允許當(dāng)量;
  
  定量線――判定缺陷的大小、長(zhǎng)度的控制線;
  
  測(cè)長(zhǎng)線――探傷起始靈敏度控制線。
  
  九、超聲波探傷儀與X射線探傷相比較有何優(yōu)的缺點(diǎn)?
  
  超聲波探傷儀比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高,對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn);缺點(diǎn)是對(duì)工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類、對(duì)缺陷沒(méi)有直觀性;超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。
  
  十、超聲波探傷儀探傷板厚14毫米時(shí),距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系怎樣?
  
  測(cè)長(zhǎng)線Ф1х6-12dB
  
  定量線Ф1х6-6dB
  
  判度線Ф1х6-2dB
  
  十一、用超聲波探傷儀探傷時(shí),底波消失可能是什么原因造成的?
  
  (1)近表表大缺陷;
  
  (2)吸收性缺陷;
  
  (3)傾斜大缺陷;
  
  (4)氧化皮與鋼板結(jié)合不好。

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